FEI Vion Plasma 聚焦離子束系統(tǒng)（FIB）

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更新時間：2025-12-30 07:05:22瀏覽次數(shù)：15次

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上海禹重實業(yè)有限公司

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產(chǎn)品簡介

FEI Vion Plasma 聚焦離子束系統(tǒng)（FIB）能使您的實驗室實力大增，因為只需這一臺使用簡便的設備便可獲得yi流的光刻和成像性能。采用等離子源技術(shù)的 Vion PFIB 擁有比傳統(tǒng)鎵 FIB 儀器更高的吞吐量，具體來說，位置特異性切片分析、大面積光刻和樣本制備的速度提高了 20 倍以上

詳細介紹

FEI Vion Plasma 聚焦離子束系統(tǒng)(FIB)能使您的實驗室實力大增，因為只需這一臺使用簡便的設備便可獲得yi流的光刻和成像性能。采用等離子源技術(shù)的 Vion PFIB 擁有比傳統(tǒng)鎵 FIB 儀器更高的吞吐量，具體來說，位置特異性切片分析、大面積光刻和樣本制備的速度提高了 20 倍以上。Vion PFIB 在低離子束電流下也能實現(xiàn)的光刻精確度和高分辨率成像，能夠快速、準確地生成高對比度圖像，這對眾多工藝控制、失效分析或材料研究應用至關(guān)重要。
FEI Vion Plasma 聚焦離子束系統(tǒng)(FIB)的材料科學應用
Vion PFIB 特別適合用于金屬、復合物和涂層，并支持眾多材料表征、失效分析和樣本制備應用。
快速制作位置特異性切片，同時直接對樣本成像以實現(xiàn)實時監(jiān)控目的
提高銑削速度，無需為大面積及重復性銑削項目以及鋼等低濺射速率材料而犧牲質(zhì)量
開展動態(tài)壓縮或拉伸測試時，迅速對結(jié)構(gòu)和表面執(zhí)行位置特異性顯微加工。
開展電子背散射衍射分析時，制備高質(zhì)量的位置特異性表面；制備適用于 SEM 和 TEM 等其他成像和表征技術(shù)的標本
獲得亞 30 nm 圖像分辨率，以便快速識別與測量薄層及結(jié)構(gòu)
Vion PFIB 的電子工業(yè)應用
高吞吐量三維封裝分析
Vion 等離子 FIB 是一款能夠進行高精度高速切削和銑削的儀器。它能夠有選擇地對興趣區(qū)域進行銑削。此外，這款 PFIB 還能有選擇地沉積構(gòu)成圖案的導體和絕緣體。
通過將高速光刻與精準控制相結(jié)合，系統(tǒng)可以多種方式用于 IC 生產(chǎn)，例如：
隆起物、絲焊、TSV 和晶片堆疊失效分析
精確移除封裝和材料，以便開展失效分析以及隔離掩埋的芯片上的故障
在封裝級別開展工藝監(jiān)控和開發(fā)
對封裝的零件和 MEMS 器件開展缺陷分析