PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀圖片

2025-12-30 08:04:3216

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圖片描述：

PHInanoTOFII飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析。在理論上，該儀器可以在一個(gè)無(wú)限大

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