飲料機械 果蔬機械 面食機械 糕點設(shè)備 烘焙設(shè)備 豆制品設(shè)備 乳制品設(shè)備 茶葉機械 制冷設(shè)備 油炸設(shè)備 膨化設(shè)備 糖果機械 調(diào)味品設(shè)備 薯類加工設(shè)備 釀酒設(shè)備
東莞市柳沁檢測儀器有限公司
東莞市柳沁檢測儀器有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地東莞市
聯(lián)系方式：馮琪琪查看聯(lián)系方式
更新時間：2024-10-25 09:03:55瀏覽次數(shù)：127次
聯(lián)系我時，請告知來自 食品機械設(shè)備網(wǎng)暫無信息 |
芯片測試?yán)錈釠_擊檢測實驗箱是一種模擬自然界溫度急 劇變化的試驗設(shè)備,通過它能測試產(chǎn)品在溫度快速變化的過程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害,從而發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問題，進而對其改進優(yōu)化。冷熱沖擊試驗機是金屬、塑料、航空、航天、橡膠、電子等材料行業(yè)的試驗設(shè)備。
芯片測試?yán)錈釠_擊檢測實驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)： 1、GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件2、GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件3、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《高溫試驗方法Bb》 6、GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗 7、GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗 8、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗 芯片測試?yán)錈釠_擊檢測實驗箱性能參數(shù)參考如下： 一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。 二、溫度偏差：±2℃。 三、溫度波動度：±0.5℃。 四、溫度恢復(fù)時間：≤5min。 五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。 六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動驅(qū)動。 七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。 八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。 九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音） 十、型號 內(nèi)箱尺寸（mm) 外箱尺寸（mm） 功率（kw) LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5 LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0 LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0 LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0 LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0
品牌 其他品牌 價格區(qū)間 5萬-10萬 產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,農(nóng)業(yè),電子,航天,汽車
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
食品機械設(shè)備網(wǎng) 設(shè)計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
